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DIATEST电子塞规应用及规格

作者: 来源: 日期:2023/4/14 10:20:09 人气:3979

应用及规格

     德国DIATEST公司生产的塞规式测量头特别适用于大批量生产中的自动及手动测量,其特有的导向圆柱体设计,保证了测量结果的可靠性,解决了孔径测量的对中难题,减少了人为因素对测量结果的影响,从而能够方便、快速、准确地得出测量结果。

使用DIATEST公司的测头,不仅能精确的测量孔径,还能测量孔的各种几何形状误差。

 适用范围:通孔、盲孔、锥孔、台阶孔、方孔等各种孔  

测量范围:Φ2.98-Φ270㎜

测量深度:0.6—2000㎜

重复精度:≤1µm

线性误差:≤1%

使用寿命:满足100万次以上测量要求

结构形式:积木式结构,随意组合

适用环境:特别适合在生产现场使用

 

DIATEST通孔测头(D4系列) Φ2.98-9mm

 

DIATEST盲孔测头(FB10系列) Φ>44-70mm 盲孔测头(FB10系列)  Φ>44-70mm
DIATEST盲孔测头(FB6系列) Φ7.0-16.0mm 盲孔测头(FB6系列)   Φ7.0-16.0mm
DIATEST通孔测头(D10系列) Φ>70-270mm 通孔测头(D10系列)   Φ>70-270mm
DIATEST通孔测头(D10系列) Φ>44-70mm 通孔测头(D10系列)    Φ>44-70mm
DIATEST通孔测头(D10系列) Φ15-44mm 通孔测头(D10系列)     Φ15-44mm

 

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